Inspector 多(duo)功(gong)能α、β、γ和X輻射檢(jian)測儀

Inspector 多(duo)功(gong)能α、β、γ和X輻射檢(jian)測儀

    Inspector 多(duo)功(gong)能α、β、γ和X輻射檢(jian)測儀簡(jian)介：

   Inspector 多(duo)功(gong)能α、β、γ和X輻射(she)檢(jian)測儀是(shi)美(mei)國(guo)Inspector公司生產(chan)的壹(yi)款手(shou)持(chi)式(shi)多(duo)功(gong)能輻射劑量(liang)檢(jian)測儀，儀器(qi)采用(yong)高(gao)靈敏GM，探測面(mian)積(ji)60個(ge)平(ping)方厘米，在(zai)該測量(liang)面(mian)積(ji)產(chan)品厘(li)米是(shi)價(jia)格(ge)*的(de)壹(yi)款(kuan)產(chan)品，價(jia)格(ge)媲(pi)美(mei)國(guo)產(chan)，質量(liang)媲(pi)美(mei)進(jin)口，是(shi)壹(yi)款性(xing)價比特(te)別(bie)好的(de)儀器(qi)，許多(duo)公司廠家(jia)及個(ge)人(ren)使(shi)用(yong)的理想(xiang)產(chan)品，深(shen)受(shou)他(ta)們(men)的(de)青睞。廣(guang)泛用(yong)於監測放(fang)射(she)性(xing)工作場(chang)所(suo)和(he)表面(mian)、實驗(yan)室(shi)的(de)工(gong)作臺(tai)面(mian)、地(di)板、墻壁、手(shou)、衣服(fu)、鞋(xie)的α、β、γ和(he)X放(fang)射(she)性(xing)汙(wu)染計(ji)數測(ce)量(liang)以及環(huan)境(jing)劑量(liang)率，是(shi)壹(yi)款性(xing)價比高(gao)的輻射(she)測量(liang)儀器(qi)。 既可(ke)做(zuo)輻(fu)射(she)劑量(liang)率檢(jian)測又能用(yong)於表(biao)面(mian)汙(wu)染測(ce)量(liang)。 
常(chang)用(yong)於： 
1.檢(jian)查局(ju)部的(de)輻射(she)泄(xie)露和核輻射(she)汙(wu)染； 
2.檢(jian)查周圍(wei)環(huan)境的(de)氡(dong)輻(fu)射； 
3.檢(jian)查石材(cai)等建(jian)築(zhu)材(cai)料的(de)放(fang)射(she)性(xing) ； 
4.檢(jian)查有核輻(fu)射危(wei)險的(de)填(tian)埋(mai)地(di)和(he)垃(la)圾(ji)場； 
5.檢(jian)測從科研用(yong)到工(gong)業(ye)用(yong)的X射(she)線儀器(qi)的(de)X射線輻射(she)強度(du)； 
6.檢(jian)查地(di)下(xia)水鐳汙(wu)染； 
7.檢(jian)查地(di)下(xia)鉆管(guan)和(he)設(she)備的放(fang)射(she)性(xing)； 
8.監視核(he)反(fan)應(ying)堆周圍(wei)空氣和(he)水(shui)質的(de)汙(wu)染； 
9.檢(jian)查個(ge)人(ren)的貴重財產(chan)和珠(zhu)寶(bao)的有害(hai)輻(fu)射(she)； 
10.檢(jian)查瓷(ci)器餐(can)具玻(bo)璃(li)杯(bei)等的(de)放(fang)射(she)性(xing)； 
11.精(jing)確(que)定位輻射源(yuan)； 
12.家(jia)居(ju)裝飾(shi)的(de)檢(jian)測。 

Inspector 多(duo)功(gong)能α、β、γ和X輻射檢(jian)測儀儀器(qi)特(te)性(xing)：

1、四位液晶(jing)顯(xian)示(shi) 
2、檢(jian)測α、β、γ和X射(she)線(xian) 
3、計數測(ce)量(liang)、總計數(shu)測量(liang)和劑量(liang)率測量(liang) 
4、1分(fen)-24小(xiao)時(shi)定時(shi)測量(liang) 
5、γ和X線：20kev，β>100kev，α>2Mev，對(dui)Cs-137源(yuan)為(wei)5.8Cps/μSv/h;  

Inspector 多(duo)功(gong)能α、β、γ和X輻射檢(jian)測儀技術(shu)指(zhi)標：

檢(jian)測器
內置(zhi)卥素淬(cui)滅(mie)GM管，具有雲(yun)母窗(chuang)口，1.5-2.0mg/cm2面(mian)密度(du)。窗口有效直(zhi)徑45mm(1.75in)
Inspector型(只有內部(bu)GM管)在(zai)前面(mian)板中心有射線(xian)標記(ji)標記
平(ping)均(jun)周期(qi)
每3秒更(geng)新顯(xian)示讀(du)數(shu)。在(zai)低(di)本(ben)底(di)值(zhi)檢(jian)測時，更(geng)新速率(lv)是(shi)之(zhi)前30秒時(shi)段的移動平(ping)均(jun)值。該(gai)時間周期(qi)會(hui)因輻(fu)射(she)值增加而下(xia)降(jiang)。
操(cao)作範(fan)圍(wei)
mR/hr(毫(hao)倫/小(xiao)時(shi))：0.001～110
μSV/hr(微希伏/小(xiao)時(shi))：0.01～1100
CPM(每分(fen)鐘計數(shu))：0～350,000
CPS(每秒鐘計數(shu))：0～5,000
精(jing)確(que)度(du)(Cs137)
mR/hr±10%壹般(NIST)，±15%zui大：0～100
μSV/hr±10%壹般(NIST)，±15%zui大：01～1000
CPM±10%壹般(NIST)，±15%zui大：0～350,000
能量(liang)靈敏度(du)
測定α低(di)至(zhi)2MeV。測(ce)定β低(di)至(zhi)0.16MeV。壹(yi)般(ban)在1MeV的(de)檢(jian)測效率(lv)大約(yue)25%。通(tong)過(guo)窗口末(mo)端(duan)測定γ低(di)至(zhi)10KeV。
3,340 CPM/mR/hr(Cs137)。在接觸(chu)下(xia)對(dui)於I125zui細(xi)檢(jian)測限(xian)值為(wei)0.02μCi。
顯示
4數字液晶(jing)體(ti)顯(xian)示屏
報警設(she)置(zhi)範(fan)圍(wei)
mR/hr：0.001-50及CPM：1-160,000。1米內(nei)達(da)70分(fen)貝
計數燈
每輻(fu)射事(shi)件均(jun)發出紅色(se)LED閃(shan)爍(shuo)
鳴聲
內置(zhi)蜂(feng)鳴器(qi)(可(ke)切(qie)換(huan)為(wei)模(mo)式(shi))
輸出
雙(shuang)微型插孔(kong)，用(yong)於驅CMOS或TTL設(she)備，連(lian)接計算機或數(shu)據記錄(lu)器(qi)
微型輸入(ru)插孔(kong)，用(yong)於電(dian)子(zi)校準(zhun)
抗飽(bao)和(he)
在超(chao)出zui大測量(liang)值100倍時，儀器(qi)固(gu)定在(zai)全量(liang)程(cheng)位置(zhi)
電(dian)源(yuan)
1節(jie)9V堿性(xing)電(dian)池。在(zai)壹般(ban)本(ben)底(di)值(zhi)時(shi)，電(dian)池壽(shou)命大約(yue)2160小(xiao)時(shi)
重量(liang)
主機：273g(不(bu)含(han)電(dian)池)
體積(ji)
150x80x30mm
標配(pei)
便攜袋及CE證(zheng)書