WF-3200 表面汙染快速掃(sao)描(miao)儀

WF-3200 表面汙染快速掃(sao)描(miao)儀

WF-3200 表面汙染快速掃(sao)描(miao)儀儀(yi)器(qi)簡(jian)介

WF-3200表面汙染快速掃(sao)描(miao)儀是器(qi)研(yan)制(zhi)的(de)表面汙染檢測儀，其zui大(da)特(te)點(dian)為(wei)操(cao)作簡(jian)單(dan)，快速測(ce)量(liang)，可放置放射性場所(suo)出(chu)入(ru)口(kou)通(tong)道出(chu)，便(bian)於出(chu)入(ru)人(ren)員檢測自己是(shi)否(fou)受到(dao)汙染。

WF-3200 表面汙染快速掃(sao)描(miao)儀儀器(qi)特(te)點(dian)

    測量(liang)對象(xiang)：單(dan)測α、單測β、同測α和(he)β可選(xuan)  

    測量(liang)元(yuan)件：大面(mian)積(ji)塑閃(shan)晶體(ti)及(ji)光(guang)電(dian)倍增管(guan)  

    測量(liang)單(dan)位：cps、Bq/cm2 等(deng)  

    本(ben)底測量(liang)：1～99 秒由(you)用(yong)戶(hu)設置  

    報(bao)警閾值：測(ce)量(liang)範圍內連續(xu)可調(tiao)  

    指 示(shi) 燈(deng)：正(zheng)常、報(bao)警(jing)、故(gu)障等狀態指示(shi)燈(deng)  

    軟件界(jie)面：漢語(yu)界(jie)面，操(cao)作簡(jian)單(dan)  

   WF-3200 表面汙染快速掃(sao)描(miao)儀​技(ji)術規(gui)格

 速測(ce)時間：0.2~10秒  

    探(tan)測下(xia)限(xian)：α≤0.02Bq/ cm2  β≤0.12Bq/ cm2（測量(liang)時(shi)間為(wei)10s）  

    α測(ce)量(liang)效(xiao)率(lv)(239Pu)：≥30%  

    β測量(liang)效(xiao)率(lv)(90Sr-90Y)：≥35%  

    工作溫度(du)：-10℃～+50℃  

    儲存溫度(du)：-30℃~+60℃  

    主(zhu)  電(dian) 源：220V±10%，50Hz  

    測量(liang)區(qu)面積(ji)：170mm×100mm