XH-3207 碘表面汙(wu)染(ran)測(ce)量(liang)儀

XH-3207 碘表面汙(wu)染(ran)測(ce)量(liang)儀儀(yi)器簡(jian)介(jie)

XH-3207 ¹²⁵I, ¹³¹I碘表面汙(wu)染(ran)測(ce)量(liang)儀，采用(yong)閃爍探(tan)測(ce)法，壹(yi)種(zhong)便(bian)攜(xie)式(shi)低(di)能γ放射性沾汙(wu)測(ce)量(liang)儀(yi)。用(yong)以(yi)檢(jian)測放(fang)射性工作(zuo)場所(suo)和實驗(yan)室的(de)工作(zuo)臺面、地板(ban)、墻面、手(shou)、衣服、鞋(xie)等(deng)表(biao)面受¹²⁵I或¹³¹I放射性汙(wu)染(ran)的(de)程(cheng)度。對(dui)醫院涉(she)及(ji)放免藥盒、同(tong)位(wei)素示(shi)蹤(zong)等(deng)使用(yong)低(di)能γ放射性同(tong)位(wei)素的(de)場(chang)所(suo)，是(shi)*的(de)防(fang)護測量儀(yi)。

本(ben)儀(yi)表(biao)為(wei)液晶顯(xian)示(shi)小(xiao)型(xing)可(ke)攜(xie)儀(yi)表(biao)，儀器顯(xian)示(shi)測(ce)量結果時發出(chu)音(yin)響訊號(hao)。液晶顯(xian)示(shi)高(gao)壓值和電池欠(qian)壓提(ti)示(shi)。電路采用(yong)微分(fen)測(ce)量法，可(ke)將(jiang)入射的(de)¹³¹I放(fang)射性對(dui)¹²⁵I汙(wu)染(ran)測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響減小到zui小程(cheng)度(du)。

二(er)、主(zhu)要指(zhi)標(biao)

計(ji)數(shu)容(rong)量(liang)：0～9999 cps

定(ding)    時：1～60＂，默認2＂

測量(liang)範(fan)圍(wei)：¹²⁵I ：0～9999 cps

¹³¹I ：0～9999 cps

γ能(neng)量範(fan)圍(wei)：¹²⁵I：25～65Kev；¹³¹I： 364Kev

表(biao)面活(huo)度響應

用(yong)探(tan)測(ce)效(xiao)率(lv)表示(shi)：¹²⁵I≥50%  本(ben)底(di)≤5Hz

             ¹³¹I≥10%  本(ben)底(di)≤30Hz

相(xiang)對(dui)固(gu)有誤(wu)差：≤±25%

變(bian)異系數：儀表對(dui)於(yu)隨機(ji)的(de)統(tong)計(ji)漲(zhang)落(luo)而(er)產生(sheng)的(de)示(shi)值變(bian)異系數＜±10%。

電池壽(shou)命(ming)：在(zai)正(zheng)常(chang)使用(yong)條(tiao)件(jian)下5#電池三(san)節(jie)壹(yi)次(ci)能(neng)連(lian)續(xu)使用(yong)12ｈ（背(bei)光關(guan)閉）；采用(yong)3.7V充電電池可(ke)連(lian)續(xu)20h（背(bei)光關(guan)閉）

高溫(wen)誤差(cha)：儀器(qi)在(zai)45±2℃條件(jian)下，通(tong)電4小時，其(qi)測(ce)量(liang)誤(wu)差≤±20%.

低(di)溫(wen)誤差(cha)：儀器(qi)在(zai)-8±2℃條件(jian)下，通(tong)電4小時，其(qi)測(ce)量(liang)誤(wu)差≤±20%.

潮濕(shi)誤(wu)差：儀器在(zai)相對(dui)濕(shi)度(du)為95±3%（40±2℃）條件(jian)下，不(bu)通(tong)電放置(zhi)48小(xiao)時，其(qi)測(ce)量(liang)誤(wu)差≤±10%（因溫(wen)度引(yin)起的(de)誤(wu)差除外）

工作(zuo)環(huan)境：

環(huan)境溫(wen)度：-10～+55℃

相(xiang)對(dui)濕(shi)度(du)：≤95±3%（40±2℃）