α、β表面汙(wu)染測(ce)量儀

α、β表面汙(wu)染測(ce)量儀

產(chan)品簡介(jie)：

α、β表面汙(wu)染測(ce)量儀是(shi)壹(yi)款高(gao)靈敏度表面汙(wu)染汙(wu)染測(ce)量儀，此(ci)款儀器適(shi)用(yong)於低(di)水(shui)平(ping)α、β輻(fu)射表面汙(wu)染檢(jian)測(ce)。儀器采用(yong)ZnS探(tan)測器(qi)，具有較(jiao)高(gao)的探(tan)測效(xiao)率；同壹(yi)探(tan)頭能(neng)同時(shi)測(ce)量α、βγ，並(bing)自(zi)動區分(fen)α和βγ劑(ji)量(liang)率，是(shi)環(huan)境試驗(yan)室(shi)、核(he)醫(yi)學(xue)、分(fen)子(zi)生(sheng)物(wu)學(xue)、放(fang)射化(hua)學(xue)、核(he)原(yuan)材(cai)料運(yun)輸(shu)、存(cun)儲(chu)和商(shang)檢(jian)等(deng)領(ling)域進(jin)行α、β輻(fu)射表面汙(wu)染檢(jian)測(ce)的理想儀器。

儀器特(te)點(dian)：

-可同時(shi)測(ce)量α、β，α、β可分別單獨測(ce)量(liang)，無需(xu)外加探(tan)頭

-提(ti)供(gong)α、β雙(shuang)通道獨立(li)測(ce)量(liang)功能，軟件上(shang)可根據(ju)測(ce)量需(xu)要(yao)自(zi)由配置(zhi)修(xiu)改

-可自(zi)由編輯的核(he)素庫

-探(tan)測器(qi)采用(yong)雙(shuang)閃(shan)探(tan)測器(qi)ZnS(Ag)塗(tu)層(ceng)+塑閃(shan)探(tan)測器(qi)

-主(zhu)機(ji)采用(yong)全(quan)彩(cai)液晶(jing)顯(xian)示屏

-儀器操(cao)作簡便(bian)、可手持(chi)操作

-報(bao)警(jing)：報警(jing)閾(yu)值可隨(sui)意(yi)調整，提(ti)供(gong)兩個(ge)可調報(bao)警(jing)閾(yu)值（高(gao)報(bao)警(jing)、超(chao)高(gao)報(bao)警(jing)）

-配備(bei)保(bao)護性外殼套(tao)，保(bao)證儀器不(bu)受損傷(shang)

主(zhu)要(yao)參數指(zhi)標(biao)：

- 計(ji)數範(fan)圍： 1～1000000 cps；

- 穩(wen)定(ding)性：α、β計(ji)數>1000時(shi)，8小(xiao)時(shi)最(zui)大(da)變化(hua)≤10%

- 顯(xian)示單位： cps、 cpm、Bq/cm²

- 相(xiang)對(dui)基(ji)本誤差：≤±10％

- 相(xiang)對(dui)濕(shi)度範(fan)圍：≤90%（40℃）

- 溫(wen)度：-10℃～+40℃

- 供(gong)電(dian)電(dian)源：鋰(li)電(dian)池

- 外 殼：工程ABS，鎂鋁(lv)合(he)金(jin)

- 符(fu)合(he)《表面汙(wu)染測(ce)定 第1部(bu)分β發射體(ti)(E, βmax0.15 MeV)和α發射體(ti)》

（GB/T 14056.1-2008）。

裝(zhuang)箱清(qing)單：

防(fang)水(shui)便(bian)攜(xie)保(bao)護箱、說(shuo)明(ming)書、合(he)格(ge)證、保(bao)修(xiu)卡(ka)、主(zhu)機(ji)、充(chong)電(dian)線