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更新時(shi)間:2025-03-09
訪(fang)問量:4074
廠商(shang)性質:生(sheng)產(chan)廠家(jia)
生(sheng)產(chan)地址(zhi):上海(hai)
| 品(pin)牌(pai) | 其他品(pin)牌(pai) | 重量 | -kg |
|---|---|---|---|
| 測(ce)量(liang)範(fan)圍 | - | 電(dian)源電(dian)壓(ya) | -V |
| 執(zhi)行質量標準(zhun) | 國標 | 產(chan)地 | 國產(chan) |
| 加工定(ding)制(zhi) | 否(fou) |
PN67型(xing)α、β表面(mian)玷汙儀(yi)表面汙(wu)染檢測(ce)儀(yi)
PN67型(xing)α、β表面(mian)玷汙儀(yi)表面汙(wu)染檢測(ce)儀(yi)
產(chan)品(pin)簡介(jie):
PN67型(xing)α、β表面(mian)玷汙儀(yi)表面汙(wu)染檢測(ce)儀(yi)可用於(yu)衛(wei)健(jian)、衛(wei)生(sheng)應(ying)急、衛(wei)生(sheng)保(bao)障(zhang)、核工業(ye)、核(he)設(she)施(shi)、核(he)電(dian)站(zhan)、環保(bao)、口岸、海(hai)關(guan)、疾控(kong)衛(wei)生(sheng)、醫(yi)院(yuan)等(deng)對場(chang)所(suo)的(de)地板(ban),墻體(ti),桌(zhuo)子及工作人員衣物,皮(pi)膚等(deng)表(biao)面(mian)的(de)α、β表(biao)面(mian)汙染進行同時(shi)測(ce)量(liang)。
執(zhi)行標準(zhun):GB/T 5202-2008。
儀(yi)器特點(dian):
(1)儀(yi)器操(cao)作簡便、便攜手(shou)持(chi);
(2)滿(man)足(zu)《表面(mian)汙染(ran)測(ce)定(ding) 第(di)1部(bu)分 β 發射(she)體(E, β max0.15 MeV)和 α 發(fa)射(she)體》(GB/T 14056.1-2008)和《臨(lin)床核(he)醫(yi)學放射XX防(fang)護(hu)標準(zhun)》(GBZ 120-2006)等(deng)標準(zhun)規定(ding)的(de)檢測(ce)要(yao)求;
(3)能夠(gou)分別直接測(ce)量(liang)α、β表面(mian)汙(wu)染(ran),測(ce)量(liang)結果(guo)以cps、cpm或(huo)Bq·cm2表示;
(4)測(ce)量(liang)範(fan)圍:對 α 發(fa)射體低(di)於(yu)0.04Bq/cm2,對 β 發(fa)射體低(di)於(yu)0.4Bq/cm2;
(5)使用(yong)環境:應(ying)當(dang)滿足(zu)當(dang)地環(huan)境條(tiao)件(jian)需要(yao)。
使(shi)用(yong)註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang):
(1)使用中註(zhu)意(yi)避免(mian)放射性核素汙(wu)染(ran)設(she)備(bei);
(2)設(she)備(bei)需要(yao)定(ding)期進行校準。
技術參(can)數:
1、用(yong)途:用(yong)於(yu)職業(ye)XX工作人員對放射工作場(chang)所(suo)α、β表(biao)面(mian)汙(wu)染(ran)水(shui)平的(de)檢測(ce)。
2、壹般(ban)要(yao)求:儀(yi)器操(cao)作簡便、便攜手(shou)持(chi);壹體(ti)化(hua)設(she)計(ji),無需交換(huan)探頭(tou)。
3、滿足(zu)《表面(mian)汙染(ran)測(ce)定(ding) 第(di)1部(bu)分 β 發射(she)體(E, β max0.15 MeV)和 α 發(fa)射(she)體》(GB/T 14056.1-2008)和《臨(lin)床核(he)醫(yi)學放射XX防(fang)護(hu)標準(zhun)》(GBZ 120-2006)等(deng)標準(zhun)規定(ding)的(de)檢測(ce)要(yao)求;
4、能夠(gou)分別直接測(ce)量(liang)α、β表面(mian)汙(wu)染(ran),測(ce)量(liang)結果(guo)以cps、cpm或(huo)Bq·cm2表示;
5、測(ce)量(liang)範(fan)圍:對α發(fa)射體低(di)於(yu)0.04Bq/cm2,對β發(fa)射體低(di)於(yu)0.4Bq/cm2;
6、可連接手(shou)機APP軟件(jian)實(shi)時(shi)顯示測(ce)量(liang)數據、測(ce)量(liang)時(shi)間、設(she)置參數等(deng)功(gong)能(neng),
7、探測(ce)面(mian)積小(xiao)於(yu)170cm2;
8、聲光(guang)報警(jing),報警(jing)閾可調;
9、內置核素庫(ku),能(neng)針(zhen)對不(bu)同(tong)核(he)素(su)做區分測(ce)量(liang);
10、自帶(dai)上位(wei)機處(chu)理(li)軟件(jian),存儲(chu)數據可直接打印(yin)為(wei)數據報表(biao);
11、探(tan)測(ce)器(qi)類(lei)型(xing):復合(he)閃(shan)爍(shuo)體(ti)(ZnS(Ag)+塑料閃(shan)爍(shuo)體(ti))探(tan)測(ce)器(qi);
12、測(ce)量(liang)模式(shi):計數率(lv)、活度(du)和單(dan)位面(mian)積活度(du)測(ce)量(liang);
13、本底(di)扣(kou)除(chu):可(ke)自動(dong)扣(kou)除(chu)本底(di),本(ben)底測(ce)量(liang)時(shi)間可(ke)設(she);
14、顯示:大(da)尺(chi)寸 LCD 顯示,128×64 像(xiang)素(su),帶(dai)背景(jing)燈(deng);
15、本(ben)底:α:< 0.1 cps;β:< 15 cps(室(shi)內:< 10 cps);
16、探測(ce)效率:α: 239Pu≥ 35%(提(ti)供佐證(zheng)材(cai)料);
β:90Sr-90Y≥ 40%(提(ti)供佐證(zheng)材(cai)料);
17、串(chuan)道率:<10%(Pu-239),α->β(提(ti)供佐證(zheng)材(cai)料)
<1% (Sr-90/Y-90) β->α;
18、數據存儲(chu):可(ke)存儲(chu) 5000 組以上測(ce)量(liang)數據;
19、電(dian)源:2 節(jie) 2 號(hao)電(dian)池(chi)可(ke)工作 25 小(xiao)時(shi)以上;
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