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更新(xin)時(shi)間:2025-03-09
訪(fang)問(wen)量:4116
廠(chang)商(shang)性(xing)質:生(sheng)產(chan)廠(chang)家
生產(chan)地址(zhi):
| 品(pin)牌 | 其(qi)他(ta)品(pin)牌 | 產(chan)地 | 國(guo)產 |
|---|---|---|---|
| 加工定制(zhi) | 否(fou) |
721G可(ke)見分光(guang)光(guang)度(du)計
基(ji)本原(yuan)理(li):
◆721G可(ke)見分光(guang)光(guang)度(du)計分析(xi)法(fa)是(shi)基(ji)於不(bu)同分(fen)子(zi)結構(gou)的(de)物質(zhi)對電(dian)磁(ci)輻(fu)射(she)選(xuan)擇(ze)性吸收而建立(li)的(de)分析(xi)方法(fa)。
◆應(ying)用(yong)電(dian)磁(ci)輻(fu)射(she)波(bo)譜(pu)區通(tong)常在330nm~800nm為(wei)可(ke)見分光(guang)光(guang)度(du)計。
應用(yong):
采(cai)用微處(chu)理機控(kong)制(zhi)技(ji)術,在可(ke)見光(guang)譜(pu)區域(yu)內(nei)對物(wu)質(zhi)作(zuo)定性、定量分(fen)析(xi),是(shi)常規實驗(yan)室*的(de)多用(yong)途(tu)分析儀(yi)器,應(ying)用生(sheng)物(wu)化學(xue)、石(shi)油(you)化工、環(huan)境(jing)保護、質量控(kong)制(zhi)及大(da)專院校教學(xue)實驗(yan)室等(deng)部門(men)。
特(te)點(dian):
◆具(ju)有背光(guang)式(shi)LCD顯示屏,讀數(shu)清晰(xi)明(ming)暸。
◆采(cai)用的(de)全(quan)息(xi)閃耀(yao)光(guang)柵(zha)C-T式(shi)單色(se)器,具有波長精度高(gao),單色(se)性好,雜(za)散(san)光(guang)低(di)等(deng)優點(dian)。
◆采(cai)用微機測量系統,T-A轉換精度高(gao),並有(you)自(zi)動(dong)調(tiao)整(zheng)0%(T)和調(tiao)整(zheng)(T),濃度直(zhi)讀、濃(nong)度(du)因(yin)子(zi)設(she)定,並可(ke)選擇串行數(shu)據打印(yin)機進(jin)行數(shu)據打印(yin)功能。
◆測量讀(du)數(shu)準確(que)性高,重現性(xing)和穩定性佳(jia)。
◆可(ke)選配打印(yin)機。
◆UVWin7軟件包(另(ling)購(gou))。
主(zhu)要技(ji)術指(zhi)標(biao):
◆波長範(fan)圍:340nm~1000nm(721G 721G-100) 325nm~1000nm(722G)
◆波(bo)長大(da)允許(xu)誤差:±2nm
◆波(bo)長重復性:≤1nm
◆透(tou)射比(bi)大(da)允許(xu)誤差:±0.5%(T)
◆透(tou)射比(bi)重復性:≤0.2%(T)
◆光(guang)譜(pu)帶(dai)寬(kuan):5nm
◆雜(za)散(san)光(guang):≤0.5%(T)(在360nm處(chu),以(yi)NaNO2測定)
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