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更(geng)新時(shi)間:2025-03-07
訪問量:3961
廠(chang)商(shang)性質:生產廠(chang)家(jia)
生產地(di)址:
| 產(chan)地 | 國(guo)產 | 加工(gong)定(ding)制(zhi) | 否(fou) |
|---|
Inspector Alert多(duo)功(gong)能α、β表面(mian)沾(zhan)汙儀
儀器簡介
Inspector Alert多(duo)功(gong)能α、β表面(mian)沾(zhan)汙儀(α、β、γ和(he)X輻(fu)射(she)檢(jian)測(ce)儀)為(wei)您提供(gong)了(le)快(kuai)速、精(jing)確(que)、便(bian)捷的(de)輻(fu)射(she)檢(jian)測(ce)手段。既可做輻(fu)射(she)劑(ji)量率檢(jian)測(ce)又(you)能(neng)用於表面汙染(ran)測量,本產(chan)品采(cai)用GM探測方(fang)法(fa),用以監測放射性工(gong)作場所(suo)和(he)表面(mian)、實驗室的工(gong)作臺(tai)面(mian)、地板、墻(qiang)壁、手、衣服、鞋的α、β、γ和(he)X放射性汙染(ran)計數測(ce)量以及環境(jing)劑(ji)量率,是壹款性價比(bi)高的輻(fu)射(she)測(ce)量儀器。
應用領域:
1.檢(jian)查(zha)局(ju)部(bu)的(de)輻(fu)射(she)泄(xie)露和(he)核輻(fu)射(she)汙(wu)染(ran);
2.檢(jian)查(zha)周圍環境(jing)的氡(dong)輻(fu)射(she);
3.檢(jian)查(zha)石(shi)材等建(jian)築材(cai)料的(de)放射性 ;
4.檢(jian)查(zha)有(you)核輻(fu)射(she)危(wei)險的填(tian)埋(mai)地和(he)垃圾場;
5.檢(jian)測(ce)從(cong)科(ke)研(yan)用到工(gong)業(ye)用的X射(she)線儀器的X射(she)線(xian)輻(fu)射(she)強(qiang)度(du);
6.檢(jian)查(zha)地(di)下水(shui)鐳汙(wu)染(ran);
7.檢(jian)查(zha)地(di)下鉆(zuan)管和(he)設備(bei)的(de)放射性;
8.監視核反應(ying)堆(dui)周圍空氣(qi)和(he)水質(zhi)的汙染(ran);
9.檢(jian)查(zha)個(ge)人的(de)貴(gui)重財產和(he)珠寶(bao)的(de)有害(hai)輻(fu)射(she);
10.檢(jian)查(zha)瓷器餐(can)具玻璃(li)杯等的(de)放射性;
11.精確(que)定位輻(fu)射(she)源(yuan);
12.家居(ju)裝(zhuang)飾的(de)檢(jian)測(ce)。
儀器特(te)點(dian)
1、四位液晶(jing)顯(xian)示(shi)
2、檢(jian)測(ce)α、β、γ和(he)X射線(xian)
3、計數(shu)測量、總計數(shu)測量和(he)劑(ji)量率測量
4、1分(fen)-24小(xiao)時(shi)定時(shi)測量
5、γ和(he)X線:20kev,β>100kev,α>2Mev,對(dui)Cs-137源為(wei)5.8Cps/μSv/h;
技術(shu)參數
檢(jian)測(ce)器
內置卥(卥)素淬(cui)滅(mie)GM管,具有(you)雲(yun)母(mu)窗口(kou),1.5-2.0mg/cm2面密(mi)度(du)。窗口(kou)有(you)效(xiao)直(zhi)徑(jing)45mm(1.75in)
Inspector型(只有(you)內部(bu)GM管(guan))在(zai)前面(mian)板中(zhong)心(xin)有射(she)線標(biao)記(ji)標(biao)記(ji)
平均周期
每(mei)3秒更(geng)新顯(xian)示(shi)讀數(shu)。在(zai)低本底(di)值檢(jian)測(ce)時(shi),更(geng)新速(su)率是之(zhi)前30秒時(shi)段的移動平均值(zhi)。該時(shi)間周期會(hui)因(yin)輻(fu)射(she)值(zhi)增(zeng)加而下(xia)降(jiang)。
操(cao)作範圍
mR/hr(毫(hao)倫(lun)/小(xiao)時(shi)):0.001~110
μSV/hr(微(wei)希伏/小(xiao)時(shi)):0.01~1100
CPM(每(mei)分(fen)鐘(zhong)計(ji)數(shu)):0~350,000
CPS(每(mei)秒鐘(zhong)計(ji)數(shu)):0~5,000
精確(que)度(du)(Cs137)
mR/hr±10%壹般(ban)(NIST),±15%大(da):0~100
μSV/hr±10%壹般(ban)(NIST),±15%大(da):01~1000
CPM±10%壹般(ban)(NIST),±15%大(da):0~350,000
能量靈敏(min)度(du)
測定(ding)α低至2MeV。測(ce)定(ding)β低至0.16MeV。壹般(ban)在(zai)1MeV的檢(jian)測(ce)效(xiao)率大約(yue)25%。通過窗口(kou)末(mo)端(duan)測(ce)定(ding)γ低(di)至10KeV。
3,340 CPM/mR/hr(Cs137)。在(zai)接觸下對於I125細檢(jian)測(ce)限(xian)值(zhi)為(wei)0.02μCi。
顯示(shi)
4數字(zi)液晶(jing)體顯示(shi)屏(ping)
報(bao)警(jing)設置範(fan)圍
mR/hr:0.001-50及CPM:1-160,000。1米內(nei)達70分(fen)貝(bei)
計數(shu)燈
每(mei)輻(fu)射(she)事件(jian)均發(fa)出(chu)紅(hong)色(se)LED閃爍
鳴(ming)聲(sheng)
內置蜂(feng)鳴(ming)器(可切(qie)換(huan)為(wei)模式(shi))
輸出(chu)
雙微(wei)型插(cha)孔,用於驅CMOS或(huo)TTL設備(bei),連(lian)接(jie)計(ji)算(suan)機或(huo)數據(ju)記(ji)錄(lu)器
微(wei)型輸(shu)入(ru)插(cha)孔(kong),用於電子校準(zhun)
抗飽(bao)和(he)
在(zai)超出(chu)大測(ce)量值100倍(bei)時(shi),儀器固(gu)定(ding)在(zai)全量程位置
電源(yuan)
1節(jie)9V堿性電池(chi)。在(zai)壹般(ban)本(ben)底(di)值時(shi),電池(chi)壽(shou)命(ming)大(da)約(yue)2160小(xiao)時(shi)
重量
主(zhu)機:273g(不含電池(chi))
體積(ji)
150x80x30mm
標(biao)配(pei)
便(bian)攜袋(dai)及CE證(zheng)書(shu)
上(shang)壹篇 : RAM-01多(duo)功(gong)能α 、β 、Χ 、γ 射(she)線檢(jian)測(ce)儀
下(xia)壹篇 : Ranger EXP多(duo)功(gong)能表(biao)面汙染(ran)儀