Inspector Alert表(biao)面沾汙儀(yi)

Inspector Alert表(biao)面(mian)沾(zhan)汙(wu)儀(yi)儀(yi)器(qi)簡(jian)介(jie) 
        Inspector Alert 表(biao)面沾汙儀(yi)（α、β、γ和(he)X射線檢測儀(yi)）為(wei)您提供了(le)快速、精(jing)確(que)、便(bian)捷(jie)的輻(fu)射檢測手(shou)段(duan)。既(ji)可(ke)做(zuo)輻(fu)射劑量率檢測又能(neng)用(yong)於(yu)表面汙染(ran)測(ce)量(liang)，本(ben)產(chan)品(pin)采用(yong)GM探(tan)測方(fang)法(fa)，用(yong)以(yi)監(jian)測放射性(xing)工作場(chang)所和(he)表面、實驗室(shi)的工作臺面、地(di)板(ban)、墻(qiang)壁、手(shou)、衣服(fu)、鞋的α、β、γ和(he)X放射性(xing)汙染(ran)計(ji)數(shu)測量以及(ji)環(huan)境劑(ji)量率，是壹(yi)款(kuan)性(xing)價比(bi)高(gao)的輻(fu)射測量儀(yi)器(qi)。

儀(yi)器(qi)特點

1、四(si)位(wei)液晶顯(xian)示(shi)
2、檢測α、β、γ和(he)X射線
3、計(ji)數(shu)測量、總(zong)計(ji)數(shu)測量和(he)劑量率(lv)測量(liang)
4、1分(fen)-24小時定時測(ce)量(liang)
5、γ和(he)X線：20kev，β>100kev，α>2Mev，對(dui)Cs-137源為(wei)5.8Cps/μSv/h;  

應(ying)用(yong)領域(yu)： 
1.檢查(zha)局部的(de)輻(fu)射泄露和(he)核輻(fu)射汙染； 
2.檢查(zha)周圍環境的(de)氡輻(fu)射； 
3.檢查(zha)石材(cai)等(deng)建(jian)築材料的放(fang)射(she)性(xing) ； 
4.檢查(zha)有核輻(fu)射危險的填埋(mai)地(di)和(he)垃圾場(chang)； 
5.檢測從科(ke)研用(yong)到(dao)工業(ye)用(yong)的(de)X射線儀(yi)器(qi)的(de)X射(she)線輻(fu)射強(qiang)度(du)； 
6.檢查(zha)地(di)下(xia)水鐳汙染； 
7.檢查(zha)地(di)下(xia)鉆管和(he)設備的(de)放射(she)性(xing)； 
8.監(jian)視核反應(ying)堆(dui)周(zhou)圍空氣(qi)和(he)水質的(de)汙染； 
9.檢查(zha)個(ge)人的貴(gui)重財(cai)產(chan)和(he)珠寶的(de)有害(hai)輻(fu)射； 
10.檢查(zha)瓷器餐(can)具(ju)玻(bo)璃杯等的放射(she)性(xing)； 
11.精(jing)確(que)定位(wei)輻(fu)射源； 
12.家(jia)居(ju)裝(zhuang)飾(shi)的(de)檢測。 

技術參(can)數

檢測器(qi)
內(nei)置(zhi)卥素淬滅GM管(guan)，具(ju)有(you)雲母(mu)窗(chuang)口(kou)，1.5-2.0mg/cm²面(mian)密度(du)。窗(chuang)口(kou)有(you)效(xiao)直徑45mm(1.75in)
Inspector型(只(zhi)有(you)內(nei)部(bu)GM管)在(zai)前面(mian)板(ban)中心有(you)射(she)線標(biao)記標記(ji)
平(ping)均周期(qi)
每(mei)3秒(miao)更(geng)新顯(xian)示(shi)讀數。在(zai)低本(ben)底值(zhi)檢測時(shi)，更(geng)新速率(lv)是(shi)之(zhi)前30秒(miao)時(shi)段(duan)的(de)移動平均值。該時間(jian)周(zhou)期(qi)會因輻(fu)射值增(zeng)加而下(xia)降。
操(cao)作範圍
mR/hr(毫(hao)倫/小時)：0.001～110
μSV/hr(微希(xi)伏(fu)/小(xiao)時)：0.01～1100
CPM(每(mei)分(fen)鐘(zhong)計(ji)數(shu))：0～350,000
CPS(每(mei)秒(miao)鐘(zhong)計(ji)數(shu))：0～5,000
精(jing)確(que)度(du)(Cs137)
mR/hr±10%壹(yi)般(NIST)，±15%大(da)：0～100
μSV/hr±10%壹(yi)般(NIST)，±15%大(da)：01～1000
CPM±10%壹(yi)般(NIST)，±15%大(da)：0～350,000
能(neng)量(liang)靈(ling)敏(min)度(du)
測(ce)定α低至(zhi)2MeV。測(ce)定β低至(zhi)0.16MeV。壹(yi)般在(zai)1MeV的檢測效(xiao)率(lv)大約(yue)25%。通(tong)過窗(chuang)口末端測(ce)定γ低至(zhi)10KeV。
3,340 CPM/mR/hr(Cs137)。在(zai)接(jie)觸(chu)下對(dui)於(yu)I125細檢測限(xian)值(zhi)為(wei)0.02μCi。
顯(xian)示(shi)
4數(shu)字液晶體(ti)顯(xian)示(shi)屏
報(bao)警設置(zhi)範圍
mR/hr：0.001-50及(ji)CPM：1-160,000。1米內達70分貝(bei)
計(ji)數(shu)燈
每(mei)輻(fu)射事件均(jun)發(fa)出紅色(se)LED閃爍
鳴(ming)聲(sheng)
內(nei)置(zhi)蜂(feng)鳴(ming)器(可(ke)切換為(wei)模(mo)式(shi))
輸(shu)出
雙微型插(cha)孔，用(yong)於(yu)驅(qu)CMOS或(huo)TTL設備(bei)，連接(jie)計(ji)算(suan)機或(huo)數據(ju)記錄器(qi)
微型輸(shu)入插(cha)孔，用(yong)於(yu)電子校(xiao)準(zhun)
抗(kang)飽和(he)
在(zai)超出大(da)測(ce)量值(zhi)100倍(bei)時，儀(yi)器(qi)固(gu)定在(zai)全量程位(wei)置(zhi)
電源
1節(jie)9V堿性(xing)電池。在(zai)壹般本(ben)底值(zhi)時(shi)，電池壽(shou)命(ming)大約(yue)2160小時(shi)
重(zhong)量
主(zhu)機：273g(不含電池)
體(ti)積(ji)
150x80x30mm
標(biao)配
便(bian)攜(xie)袋及(ji)CE證(zheng)書(shu)