GAB低(di)本(ben)底α、β測量(liang)儀

                                         GAB低(di)本(ben)底α、β測量(liang)儀

壹、GAB低(di)本(ben)底α、β測量(liang)儀簡介(jie)

       GAB低(di)本(ben)底α、β測量(liang)儀是本(ben)公(gong)司新研(yan)發的(de)壹款大(da)探(tan)測器面(mian)積(ji)固定式汙染(ran)檢(jian)測儀(yi)，由(you)主探(tan)測器、反符(fu)合(he)探(tan)測器、光電倍(bei)增管、高壓模(mo)塊、反符(fu)合(he)電子學模塊、鉛屏(ping)蔽(bi)室(shi)、數據處(chu)理終(zhong)端(duan)等(deng)組(zu)成(cheng)，測量(liang)樣品(pin)中的(de)總alpha和(he)總β放射(she)性(xing)強(qiang)度。該產品(pin)在起(qi)點(dian)要(yao)求高，是該(gai)類產品(pin)的頂端設備(bei)。測量(liang)程序(xu)和(he)指標(biao)符(fu)合國家標(biao)準(zhun)要(yao)求。

二(er)、GAB低(di)本(ben)底α、β測量(liang)儀技術特點

●全自(zi)動操(cao)作(zuo)，特別適(shi)合(he)非專業(ye)人(ren)員使用(yong)；

●測量(liang)精度經過*計(ji)量(liang)機(ji)構(gou)檢定，測量(liang)可靠(kao)性(xing)有(you)保障(zhang)；

●模塊化(hua)設計(ji)，維(wei)護(hu)非常(chang)方(fang)便；

●*的α、β波形(xing)甄別算(suan)法(fa)，減(jian)少(shao)了(le)α、β串道。

三、GAB低(di)本(ben)底α、β測量(liang)儀技(ji)術指標

●主探(tan)測器：φ6厘米(mi)納米(mi)陣(zhen)列鍍(du)硫(liu)化(hua)鋅塑(su)料(liao)閃爍體；

●反符(fu)合(he)探(tan)測器：10×15×6厘米(mi)塑(su)料(liao)閃爍體；

●光收集(ji)單元(yuan)：光電倍(bei)增管；

●探(tan)測效(xiao)率：對於⁹⁰Srβ源的(de)2π探(tan)測效(xiao)率>60%，對於²³⁹Puα源的(de)2π探(tan)測效(xiao)率大於90%；

●β本底：<0.1/cm²/min；

●α本底：<0.002/cm²/min；

●α、β串道：α串β道小(xiao)於1%；β串α道<3%；

●鉛屏(ping)蔽(bi)層厚度：8cm；

●使用(yong)環(huan)境(jing)：溫(wen)度：-10^oC到40^oC；濕(shi)度<90%；

●尺寸(cun)：60×60×80cm；

●重量(liang)：50kg。

四、應用(yong)領域

可應用(yong)檢驗(yan)檢疫(yi)、環(huan)保(bao)等(deng)的水、食(shi)品放(fang)射性(xing)檢測，可應用(yong)於在(zai)、核應急條件下的食(shi)品、水放(fang)射(she)性(xing)檢測，以(yi)及(ji)其他涉核單位(wei)、重要(yao)部門的(de)食(shi)品、水放(fang)射(she)性(xing)測量(liang)。