NaI閃爍(shuo)探測器無源效(xiao)率(lv)刻度軟件

NaI閃(shan)爍(shuo)探測器無源效(xiao)率(lv)刻度軟件

壹、NaI閃(shan)爍(shuo)探測器無源效(xiao)率(lv)刻度軟件產(chan)品(pin)簡(jian)介

       NaI閃(shan)爍(shuo)探測器無源效(xiao)率(lv)刻度軟件刻(ke)度方法(fa)主要有兩種，壹是相對測量(liang)方法(fa)，二(er)是(shi)無源效(xiao)率(lv)刻度方法(fa)。在(zai)退役核設(she)施放射性(xing)測量(liang)、放射性(xing)工作(zuo)場所(suo)測量(liang)、核(he)事(shi)故(gu)應急(ji)中(zhong)汙染(ran)物放射性(xing)快速(su)測量(liang)、人體器官放射性(xing)測量(liang)、生(sheng)物樣(yang)品(pin)放射性(xing)快速(su)測量(liang)、放射性(xing)廢物(wu)非破(po)壞(huai)性測量(liang)等領(ling)域，很(hen)難采(cai)用(yong)借助標準源(yuan)的相(xiang)對測量(liang)方法(fa)獲得效(xiao)率(lv)刻度因子。

       無源效(xiao)率(lv)刻度軟件NaI-Calibration是(shi)用(yong)於NaI γ射線(xian)探(tan)測器無源效(xiao)率(lv)刻度的新產(chan)品(pin)，它(ta)采用(yong)數值(zhi)方法(fa)計算γ光(guang)子的(de)輸運(yun)過程，在(zai)此基(ji)礎上得(de)到(dao)效率(lv)刻度因子，幾(ji)何和(he)材料建模(mo)能力強(qiang)大(da)，計算精度高，速(su)度快，界(jie)面簡(jian)單(dan)，使(shi)用(yong)方便。由(you)於是(shi)采用(yong)理(li)論(lun)計算方法(fa)，因此，對於復(fu)雜幾(ji)何形(xing)狀和成分(fen)的(de)放射源(yuan)都快速(su)地(di)獲得效(xiao)率(lv)刻度曲線(xian)。NaI-Calibration克(ke)服了(le)相對測量(liang)方法(fa)的(de)缺(que)點，同時(shi)避免(mian)了(le)標準源(yuan)的使(shi)用(yong)和管理(li)，地(di)拓(tuo)展了NaI探(tan)測器的適(shi)用(yong)範(fan)圍，提高了NaI探(tan)測器的定(ding)量(liang)分(fen)析能力。

       NaI-Calibration是(shi)在解決(jue)兩(liang)個(ge)關(guan)鍵(jian)技術的基(ji)礎上研(yan)制成功的NaI無源效(xiao)率(lv)刻度軟件，壹是光子(zi)在探(tan)測器中(zhong)的能(neng)量(liang)沈積(ji)計算，二(er)是(shi)探測器中(zhong)產(chan)光(guang)效(xiao)率(lv)和光(guang)收(shou)集(ji)效率(lv)的表(biao)征方法(fa)。光(guang)子在(zai)探測器中(zhong)的能(neng)量(liang)沈積(ji)部(bu)分(fen)具備(bei)壹般的無源效(xiao)率(lv)刻度軟件的優(you)點(dian)，即可視化(hua)建模(mo)功能，對於任(ren)意組(zu)分(fen)材料和任(ren)意屏(ping)蔽物，精密(mi)化(hua)計算能量(liang)沈積(ji)功能；探(tan)測器表(biao)征方面通(tong)過(guo)實驗測量(liang)得到(dao)點源(yuan)在(zai)不(bu)同位(wei)置(zhi)的(de)能(neng)量(liang)沈積(ji)，然後反演(yan)出(chu)探(tan)測器的產(chan)光(guang)效(xiao)率(lv)和收(shou)集(ji)效率(lv)隨能量(liang)變(bian)化(hua)曲線(xian)。NaI-Calibration經(jing)過(guo)了不(bu)同形(xing)狀、不(bu)同活度的體源效(xiao)率(lv)測量(liang)的考(kao)核(he)。

二(er)、NaI閃(shan)爍(shuo)探測器無源效(xiao)率(lv)刻度軟件性(xing)能

· 采(cai)用(yong)功能強大(da)的CSG建模(mo)，實(shi)現(xian)對任(ren)意形(xing)狀的體源(yuan)的三(san)維可(ke)視化(hua)快速(su)建模(mo)；

·     放射源(yuan)到(dao)探測器的距(ju)離為(wei)0到(dao)無窮(qiong)遠；

· 刻(ke)度的能量(liang)範(fan)圍45keV到(dao)7MeV；

· 積(ji)分(fen)控制精度人為(wei)調節，軟(ruan)件默認值(zhi)為(wei)3%；

· 效(xiao)率(lv)刻度曲線(xian)計算時間：對於形(xing)狀對稱的(de)體(ti)源（如(ru)環境(jing)樣(yang)品(pin)源），計算時間小於(yu)20秒；

· 對於形(xing)狀非對稱的(de)體(ti)源，計算時間壹般少於10分(fen)鐘(zhong)；

· 軟(ruan)件輸(shu)出(chu)為(wei)*.TXT格(ge)式(shi)文(wen)件；

· 中(zhong)、英文(wen)界(jie)面。

三(san)、本(ben)公司(si)的服務(wu)

定(ding)制軟件(jian)界(jie)面；

 定(ding)制報告(gao)格(ge)式(shi)；

免(mian)費培(pei)訓(xun)和(he)技術咨(zi)詢(xun)。