ORTEC高純鍺(zhe)伽瑪(ma)譜(pu)儀

           ORTEC高(gao)純(chun)鍺伽瑪(ma)譜(pu)儀

ORTEC高(gao)純(chun)鍺伽瑪(ma)譜(pu)儀的功(gong)能(neng)與特(te)點(dian)

• 探(tan)測(ce)器方面。
• ORTEC能(neng)提供(gong)相(xiang)對(dui)效(xiao)率200%的P型(xing)探(tan)測(ce)器和(he)150%的N型(xing)探(tan)測(ce)器；ORTEC嚴(yan)格遵照(zhao)原(yuan)子(zi)能(neng)委員會的ANSI/IEEE Std.325-1996標(biao)準，全面保證探(tan)測(ce)器的效(xiao)率、分(fen)辨率、峰(feng)康比(bi)和(he)峰(feng)形(xing)等(deng)性(xing)能(neng)指(zhi)標(biao)，並(bing)且實際指(zhi)標(biao)與保證值(zhi)之(zhi)間(jian)通常留(liu)有較(jiao)大余量(liang)。
• ORTEC提(ti)供(gong)兩(liang)種(zhong)接(jie)口方式的探(tan)測(ce)器，壹(yi)種(zhong)為(wei)傳(chuan)統(tong)的分(fen)散(san)電(dian)纜線(xian)接(jie)口，壹(yi)種(zhong)為(wei)Smart-1方式集成接(jie)口；SMART-1探(tan)測(ce)器采(cai)用(yong)集(ji)成的前(qian)放(fang)、偏(pian)壓、高壓、高壓保護(hu)與信號接(jie)口，內(nei)含高壓模塊(kuai)與(yu)微(wei)處(chu)理器，大大(da)簡化了(le)電纜線(xian)布置(zhi)，使(shi)系統的連接(jie)十(shi)分(fen)簡單可(ke)靠，尤其適用(yong)於(yu)野外(wai)測(ce)量和(he)移(yi)動(dong)測(ce)量的場合。SMART-1能(neng)夠實時監(jian)測(ce)探(tan)測(ce)器的“健(jian)康狀態(tai)”, 隨時可(ke)讀(du)取晶(jing)體(ti)溫(wen)度(du)、高壓狀態(tai)、計數率和(he)探(tan)測(ce)器序列(lie)號等(deng)信息。分(fen)散(san)的電(dian)纜線(xian)方式下，探(tan)測(ce)器與(yu)數(shu)字(zi)化譜(pu)儀（DSPEC-jr2.0與DSPEC-Pro）之(zhi)間(jian)采(cai)用(yong)DIM方式連接(jie)，此種(zhong)方式與Smart-1的另壹(yi)個(ge)細(xi)微(wei)區別(bie)是不(bu)能(neng)讀(du)取晶(jing)體(ti)溫(wen)度(du)的信息。
• ORTEC高(gao)純(chun)鍺伽瑪(ma)譜(pu)儀數字(zi)化譜(pu)儀與軟(ruan)件方面。
• 從外(wai)在(zai)特(te)征來(lai)看，ORTEC DSPEC-jr2.0具有數(shu)字(zi)化液晶屏(ping)，隨時顯示系統主要參數信息；背(bei)面板(ban)的接(jie)口十(shi)分(fen)簡潔(jie)，由(you)Smart-1或(huo)DIM模塊(kuai)過來(lai)的電(dian)纜與(yu)壹(yi)個(ge)集(ji)成的25針(zhen)信號接(jie)口直(zhi)接(jie)連接(jie)，數據傳(chuan)輸(shu)則(ze)通(tong)過USB2.0接(jie)口。

• 在(zai)主要技(ji)術指(zhi)標(biao)方面。現(xian)在的數(shu)字(zi)化譜(pu)儀基本上(shang)為16K道(dao)。ORTEC在這(zhe)方面的明(ming)顯you勢體(ti)現(xian)在數據通過率方面，其所有型(xing)號的數(shu)字(zi)化譜(pu)儀（包(bao)括DSPEC-jr2.0、DSPEC-Pro、DSPEC-Plus以及便(bian)攜(xie)式的DigiDART）的大(da)數據通過率都達到100kcps，而(er)DSPEC-Plus更(geng)是達(da)到(dao)133kcps。這(zhe)壹(yi)點(dian)體(ti)現(xian)在具體(ti)應(ying)用(yong)中的現(xian)實意(yi)義(yi)是：當(dang)匹(pi)配高(gao)效(xiao)率的HPGe探(tan)測(ce)器或(huo)是測(ce)量高(gao)活(huo)度(du)樣(yang)品時(shi)，大的數(shu)據通過率意(yi)味著更少(shao)的死時(shi)間(jian)，保證了(le)測(ce)量結果(guo)的可(ke)靠性(xing)。
• 更(geng)明(ming)顯的優(you)勢體(ti)現(xian)在ORTEC在核(he)電子學(xue)與(yu)信號處(chu)理的多項傳(chuan)統(tong)技(ji)術(shu)上(shang)，其中部(bu)分(fen)為技(ji)術。具體(ti)包(bao)括：低頻噪(zao)聲抑(yi)制(zhi)LFR、自(zi)動(dong)you化、脈沖抗堆積(ji)、數字(zi)化自(zi)動(dong)極零(ling)Auto-PZ、零死時(shi)間(jian)校(xiao)正ZDT、內(nei)置虛(xu)擬(ni)示波(bo)器(qi)、彈道虧損(sun)校(xiao)正和(he)數(shu)字(zi)化門(men)控(kong)基(ji)線(xian)恢(hui)復(fu)等(deng)。下面(mian)就(jiu)其中部(bu)分(fen)技術(shu)作簡(jian)要介(jie)紹。

   3.1 數(shu)字(zi)化自(zi)動(dong)極零(ling)（AUTO-PZ，技術(shu)，U.S.A. Patent No. 4,866,400）、門(men)控(kong)基(ji)線(xian)恢(hui)復(fu)與(yu)脈沖抗堆積(ji)功能(neng)

    這(zhe)三(san)項技術(shu)早集中應(ying)用(yong)於(yu)ORTEC 672主放(fang)。主要基(ji)於解(jie)決中高計(ji)數(shu)率情況(kuang)下峰(feng)位漂移、分(fen)辨率變(bian)差(cha)、與(yu)高(gao)能(neng)端本底增高(gao)的問(wen)題。同(tong)時，自(zi)動(dong)極零(ling)功能(neng)還保證了(le)系統的通(tong)過率盡可(ke)能(neng)的少(shao)受(shou)影(ying)響(xiang)。

 3.2 低頻噪(zao)聲抑(yi)制(zhi)LFR

LFR它(ta)是壹(yi)項新(xin)型(xing)的數(shu)字(zi)化濾(lv)波(bo)技(ji)術（ORTEC正在申(shen)請(qing)），主要用(yong)於(yu)屏(ping)蔽(bi)測(ce)量低活度(du)樣(yang)品時(shi)有效(xiao)過濾由(you)機(ji)械振動(dong)（如電致冷）、接(jie)地不良等(deng)外(wai)部(bu)環(huan)境因素(su)導(dao)致(zhi)的低頻噪(zao)聲信號，從而(er)進壹(yi)步(bu)改(gai)善(shan)系統的分(fen)辨率。

3.3 零(ling)死時(shi)間(jian)校(xiao)正ZDT（USA Patent No. 6,327,549）

 ZDT功(gong)能(neng)早於2000年(nian)應(ying)用(yong)於(yu)DSPEC-Plus數(shu)字(zi)化譜(pu)儀。在高計(ji)數率(lv)測(ce)量狀(zhuang)態(tai)下，尤(you)其(qi)是在(zai)中子活(huo)化與(yu)在(zai)線(xian)監測(ce)等(deng)動(dong)態(tai)測(ce)量時(shi)，系統通(tong)常會存(cun)在較大(da)的死時(shi)間(jian)，此時(shi)必須進行相(xiang)應(ying)校(xiao)正才(cai)能(neng)獲(huo)得(de)準確的結果(guo)。ZDT方法采(cai)用(yong)Gedcke-Hale時(shi)鐘實現(xian)測(ce)量過程(cheng)中死時(shi)間(jian)隨計數率變(bian)化的動(dong)態(tai)校(xiao)正，與(yu)傳(chuan)統(tong)而(er)簡(jian)單的LTC（Live Time Correction）死時(shi)間(jian)校(xiao)正方法相(xiang)比(bi)，至(zhi)少(shao)具有以(yi)下優(you)勢(shi)：1，其校(xiao)正的精(jing)度遠高於(yu)LTC方法，經ORTEC專(zhuan)門的實(shi)驗驗證，其不確(que)定度(du)在±4% 以(yi)內(nei)，基本實(shi)現(xian)了(le)無損失(shi)計數(shu)（Loss Free Counting）；2，ORTEC在(zai)ZDT功能(neng)下同(tong)時(shi)報(bao)告(gao)校(xiao)正後(hou)的不(bu)確定(ding)度，並(bing)且同時(shi)保(bao)存(cun)校(xiao)正前(qian)後(hou)的譜(pu)圖供(gong)用(yong)戶(hu)驗證。請(qing)註(zhu)意(yi)：ORTEC的數(shu)字(zi)化譜(pu)儀有兩個(ge)緩存(cun)器。

344 彈(dan)道(dao)虧損(sun)校(xiao)正與(yu)內(nei)置虛(xu)擬(ni)示波(bo)器(qi)

在(zai)系統采(cai)用(yong)相(xiang)對(dui)效(xiao)率較(jiao)高的HPGe探(tan)測(ce)器時(shi)，

彈(dan)道(dao)虧損(sun)效(xiao)應(ying)（Ballistic Deficit）常導(dao)致分(fen)辨率變(bian)差(cha)甚(shen)至(zhi)惡(e)化（尤(you)其(qi)在高(gao)能(neng)端），ORTEC數字(zi)化譜(pu)儀通過其內(nei)置虛(xu)擬(ni)示波(bo)器(qi)輕(qing)松(song)解(jie)決這(zhe)壹(yi)問(wen)題(ti)：比(bi)如對207%的HPGe探(tan)測(ce)器，將(jiang)平頂(ding)時(shi)間(jian)設(she)為0.8μs，就(jiu)能(neng)使(shi)分(fen)辨率達(da)到理想水平。並(bing)且用(yong)戶(hu)立(li)即(ji)看到校(xiao)正之(zhi)後分(fen)辨率改(gai)善的情(qing)況(kuang)。

3.5 快速的參數設(she)置與(yu)自(zi)動(dong)you化功(gong)能(neng)

大(da)多數(shu)情(qing)況(kuang)下，由(you)軟(ruan)件選擇(ze)“自(zi)動(dong)you化”指(zhi)令(ling)，都自動(dong)實現(xian)脈沖信號上(shang)升與平頂(ding)時(shi)間(jian)的jia參數設(she)置。

3.6 預(yu)置(zhi)MDA功能(neng)

用(yong)戶(hu)預(yu)先設(she)置多個(ge)感興趣(qu)峰(feng)（ROI）的MDA，系統會在所有MDA滿(man)足(zu)時(shi)自(zi)動(dong)終(zhong)止(zhi)測(ce)量，這(zhe)樣(yang)免去了(le)用(yong)戶(hu)因(yin)不能(neng)確定待(dai)測(ce)樣(yang)品的大(da)致活(huo)度水平而(er)為(wei)實(shi)時(shi)間(jian)的設(she)置長(chang)短而(er)煩(fan)惱(nao)。

366 GammaVision-32軟(ruan)件的其(qi)它功(gong)能(neng)

GammaVision-32（Model No。A66-B32）軟(ruan)件是悠(you)久(jiu)的伽瑪(ma)譜(pu)分(fen)析(xi)軟(ruan)件，集硬件控(kong)制(zhi)、譜(pu)獲(huo)取與(yu)分(fen)析(xi)、報(bao)告(gao)與(yu)質量(liang)保(bao)證功能(neng)於壹(yi)體(ti)。具有多路(lu)譜(pu)圖同步(bu)獲(huo)取功(gong)能(neng)-MDI（Multiple Detector Interface）。與Windows、Windows XP等(deng)軟(ruan)件良好兼容。具有在(zai)刻度(du)、設(she)置參數、尋(xun)峰(feng)與(yu)譜(pu)校(xiao)正等(deng)方面完(wan)整(zheng)而(er)強(qiang)大的功(gong)能(neng)。其質量(liang)保(bao)證執行ANSI N13.30標(biao)準。

評(ping)論(lun)：ORTEC數字(zi)化譜(pu)儀的指(zhi)標(biao)與功能(neng)特(te)性(xing)，使(shi)系統從極低到*的計(ji)數率(lv)動(dong)態(tai)範圍(wei)內(nei)，以及計(ji)數率快速變(bian)化等(deng)情況(kuang)下都有良好可(ke)靠的性(xing)能(neng)保證。

三(san)、 ORTEC高(gao)純(chun)鍺伽瑪(ma)譜(pu)儀致冷方面

ORTEC為(wei)用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)液氮致(zhi)冷與(yu)電(dian)致(zhi)冷(leng)兩種(zhong)選擇。X-COOLER-II，是ORTEC推(tui)出的第二代(dai)電致(zhi)冷(leng)產品，已(yi)經十(shi)分(fen)成熟(shu)可(ke)靠。在國內(nei)外(wai)都已得(de)到廣泛(fan)應(ying)用(yong)。除了(le)省(sheng)去了(le)液氮填(tian)充的不(bu)便之(zhi)外(wai)，其(qi)帶(dai)來(lai)的大(da)you勢是，由(you)於(yu)X-COOLER-II與(yu)探(tan)測(ce)器之(zhi)間(jian)采(cai)用(yong)軟(ruan)管連接(jie)，使(shi)探(tan)測(ce)器的方位不(bu)再受(shou)到(dao)液氮致(zhi)冷中笨重(zhong)的杜(du)瓦(wa)的限(xian)制(zhi)。（但(dan)是需要註(zhu)意(yi)：X-COOLER-II在工作過程(cheng)中不能(neng)移動(dong)）

X-COOLER-II電(dian)致(zhi)冷的不(bu)利因素(su)：1，從原(yuan)理上講，它(ta)不如液氮致(zhi)冷可(ke)靠；2，斷電如果超過15分(fen)鐘，需要回(hui)復(fu)到(dao)常溫(wen)之(zhi)後才(cai)能(neng)重新(xin)啟(qi)動(dong)，整(zheng)個過程(cheng)約(yue)需20小時；3，對分(fen)辨率的不(bu)利影(ying)響(xiang)。ORTEC的保(bao)證值(zhi)是：在(zai)500keV以(yi)下時(shi)分(fen)辨率下降保(bao)證在液氮情(qing)況(kuang)下10%範(fan)圍(wei)內(nei)，在500keV以上(shang)時沒(mei)有(you)影(ying)響(xiang)。（對(dui)於(yu)采(cai)用(yong)LFR技(ji)術(shu)的數(shu)字(zi)化譜(pu)儀，對分(fen)辨率影(ying)響(xiang)進壹(yi)步(bu)降低）

此外(wai)，因(yin)為(wei)ORTEC POP TOP 探(tan)測(ce)器的可(ke)拆(chai)卸(xie)冷指(zhi)結構(gou)，使(shi)用(yong)壽(shou)命到(dao)頭(tou)或(huo)不幸(xing)損壞(huai)的電(dian)致冷(leng)上的探(tan)測(ce)器拆(chai)下來(lai)匹(pi)配新(xin)的電(dian)致冷(leng)或(huo)是液氮致(zhi)冷。

ORTEC電(dian)致(zhi)冷在(zai)國內(nei)成功(gong)應(ying)用(yong)的例(li)子：秦(qin)山核(he)電(dian)二期(qi)（6套(tao)）、廈門大(da)學(xue)海(hai)洋(yang)系、中國海(hai)洋(yang)大學(xue)、北京師範大學(xue)地(di)理與遙感科學(xue)學(xue)院、雲(yun)南(nan)省(sheng)質量(liang)監(jian)督(du)管理局。

四、 無(wu)源(yuan)效(xiao)率刻度(du)軟(ruan)件方面

   首(shou)先(xian)必須謙虛(xu)地(di)承認，ORTEC自身(shen)沒(mei)有(you)用(yong)於(yu)實(shi)驗室(shi)的無(wu)源效(xiao)率刻度(du)軟(ruan)件，這(zhe)不能(neng)不說是壹(yi)個(ge)遺(yi)憾(han)。

讓(rang)我(wo)們(men)理智地(di)討(tao)論(lun)實驗室(shi)無(wu)源效(xiao)率刻度(du)軟(ruan)件的必要性(xing)。對於測(ce)量對(dui)象(xiang)固(gu)定（比(bi)如土壤學(xue)研究(jiu)）的情(qing)況(kuang)，無(wu)源刻度(du)是舍(she)近(jin)求遠；對於(yu)測(ce)量對(dui)象(xiang)多元化（如環境調(tiao)研或(huo)檢(jian)驗檢(jian)疫(yi)）的情(qing)況(kuang)，無(wu)源刻度(du)仍(reng)然只(zhi)是兩(liang)個(ge)選項之(zhi)間(jian)的權衡(heng)而(er)必須考(kao)慮(lv)以下因(yin)素(su)：

1， 無(wu)源(yuan)刻度(du)軟(ruan)件本身(shen)需要較(jiao)長(chang)時間(jian)去掌(zhang)握；

2， 相(xiang)對(dui)有(you)源刻度(du)，其(qi)進行參數輸(shu)入(ru)與(yu)樣(yang)品描述的步(bu)驟(zhou)較(jiao)為(wei)繁(fan)瑣(suo)；

3， 其(qi)準(zhun)確性(xing)與可(ke)靠性(xing)需定(ding)期(qi)與有(you)源刻度(du)作比(bi)較(jiao)測(ce)量而(er)驗證；

4，在(zai)探(tan)測(ce)器自(zi)身(shen)性(xing)能(neng)變(bian)化（如長(chang)年(nian)使(shi)用(yong)或(huo)是出(chu)現(xian)較嚴(yan)重故(gu)障(zhang)後(hou)修(xiu)復(fu)）情(qing)況(kuang)下，需返(fan)回(hui)到(dao)軟(ruan)件開(kai)發(fa)地(di)作重(zhong)新(xin)表(biao)征。

接(jie)下來(lai)，簡單地介(jie)紹壹(yi)下由(you)國(guo)內(nei)專(zhuan)家(jia)研發(fa)成功(gong)的無(wu)源效(xiao)率刻度(du)軟(ruan)件-GammaClib。

• 由(you)國(guo)內(nei)專(zhuan)家(jia)研發(fa)成功(gong)並(bing)獲(huo)得(de)國ji*鑒定。

• 可(ke)用(yong)於(yu)半(ban)導體(ti)或(huo)NaI伽瑪(ma)射線(xian)探(tan)測(ce)器。

• 經(jing)表(biao)征過的探(tan)測(ce)器在(zai)同(tong)壹(yi)軟(ruan)件下可(ke)用(yong)於(yu)實(shi)驗室(shi)和(he)現(xian)場（野外(wai)）測(ce)量兩(liang)種(zhong)場合。

• 軟(ruan)件幾何和材(cai)料(liao)建(jian)模能(neng)力(li)強(qiang)大，計(ji)算(suan)精(jing)度高，速度(du)快，界(jie)面簡單，使(shi)用(yong)方便。

• 其(qi)核(he)心算(suan)法(fa)的正(zheng)確性(xing)經過了(le)200多塊(kuai)不(bu)同形狀(zhuang)和能(neng)量體(ti)源(yuan)的實(shi)驗測(ce)量結果(guo)檢(jian)驗。

• 軟(ruan)件提供(gong)中、英文(wen)兩(liang)種界(jie)面。

• 國(guo)內(nei)專(zhuan)家(jia)隨時可(ke)提供(gong)，ORTEC將(jiang)全力(li)配合(he)。