HY-2013 大面積(ji)α、β表面汙(wu)染探(tan)測(ce)器(qi)

              HY-2013 大面積(ji)α、β表面汙(wu)染探(tan)測(ce)器(qi)

HY-2013 大面積(ji)α、β表面汙(wu)染探(tan)測(ce)器(qi)簡(jian)介：

    HY-2013 大面積(ji)α、β表面汙(wu)染探(tan)測(ce)器(qi)可(ke)與XH-3206使(shi)用。適(shi)用(yong)於(yu)低(di)水平(ping)α、β輻射(she)表面汙(wu)染檢(jian)測。儀(yi)器(qi)采用雙閃探(tan)測(ce)器(qi)，具(ju)有較高(gao)的(de)探(tan)測(ce)效(xiao)率(lv)；同(tong)壹探(tan)頭(tou)能(neng)同(tong)時測(ce)量(liang)α、β、γ，並自動(dong)區(qu)分(fen)α和β粒(li)子(zi)和γ劑量(liang)率(lv)，是環境(jing)試(shi)驗(yan)室(shi)、核醫學、分(fen)子(zi)生物(wu)學、放(fang)射化(hua)學、核原材(cai)料運輸(shu)、存(cun)儲和商檢等(deng)領域進行α、β輻射表面汙(wu)染檢(jian)測的(de)理(li)想儀(yi)器(qi)。探(tan)測(ce)器(qi)面積：180cm2

HY-2013 大面積(ji)α、β表面汙(wu)染探(tan)測(ce)器(qi)技術指(zhi)標(biao)：

探(tan)測(ce)器(qi)：閃爍(shuo)體探(tan)測(ce)器(qi)

測(ce)量(liang)面(mian)積：100cm2

測量(liang)範(fan)圍：0～9999CPS

α探(tan)測(ce)效(xiao)率(lv)30％   本底＜3cpm

β探(tan)測(ce)效(xiao)率(lv)≥30％  本底＜150cpm

相(xiang)對固有誤差(cha)：≤±20%

HY-2013 大面積(ji)α、β表面汙(wu)染探(tan)測(ce)器(qi)性(xing)能(neng)特(te)性(xing)

1、α、β測(ce)量(liang)共(gong)用壹個(ge)探(tan)頭(tou)，通(tong)過(guo)鍵盤進行α、β測量(liang)轉(zhuan)換。

2、測量(liang)方式可(ke)分(fen)為(wei)連續(xu)測(ce)量(liang)和單步(bu)測(ce)量(liang)。

3、提示聲(sheng)頻與活度(du)成正(zheng)比(bi)

4、大面積(ji)液晶數(shu)字顯示，可(ke)顯示測(ce)量(liang)總值、凈(jing)值（扣(kou)除(chu)本底）誤差(cha)等。

5、儀(yi)器(qi)有通(tong)訊(xun)接口(kou)，可(ke)與電(dian)腦進行通(tong)訊(xun)，實(shi)現數(shu)據(ju)下載功(gong)能。

6、探(tan)頭(tou)與(yu)儀(yi)表之間傳送距離1--10米(mi)(標(biao)配電(dian)纜(lan)1.5米(mi))。

7、體(ti)積小、質量(liang)輕(qing)、易去汙(wu)，能夠適(shi)應現(xian)場(chang)及實(shi)驗(yan)室(shi)環境(jing)條(tiao)件。

8、采(cai)用(yong)充電電池，壹次能(neng)連續(xu)使(shi)用12h以(yi)上。