AT6102B多功能(neng)便攜(xie)式(shi)能(neng)譜(pu)儀

                   AT6102B多功能(neng)便攜(xie)式(shi)能(neng)譜(pu)儀

AT6102B多功能(neng)便攜(xie)式(shi)能(neng)譜(pu)儀產(chan)品簡(jian)介(jie)：
•AT6102，AT6102A，AT6102B 是(shi)壹款(kuan)多功能(neng)便攜(xie)式(shi)能(neng)譜(pu)儀，能(neng)夠測(ce)量伽馬(ma)劑(ji)量率(lv)、無(wu)需(xu)連(lian)接(jie)電(dian)腦即(ji)可(ke)探(tan)測(ce)和識別各(ge)種(zhong)放射性(xing)核素(su)
•儀(yi)器主(zhu)要用於核與輻(fu)射(she)事(shi)故(gu)調(tiao)查(zha)、環(huan)境輻(fu)射(she)監測(ce)、海關及(ji)邊(bian)境控(kong)制(zhi)非(fei)法(fa)放射物(wu)質運輸(shu)等(deng)
•儀(yi)器內部(bu)能夠存儲 700 個能譜(pu)，能夠在天(tian)氣環(huan)境下(xia)使用，還(hai)可通過 USB 數(shu)據線與 PC 連(lian)接(jie)
•AT6102、AT6102A 及(ji) AT6102B 三者(zhe)都測(ce)量伽馬(ma)輻(fu)射(she)，都可(ke)通(tong)過連(lian)接(jie)外(wai)部(bu)探(tan)頭(tou) BDPA-01（α）及(ji) BDPB-01（β）測(ce)量α及(ji)β表(biao)面 汙 染(ran)，以(yi) 及(ji) 連(lian) 接(jie) 外(wai) 接(jie) 探(tan) 頭(tou) BDKN-03 測(ce) 量 中(zhong) 子 輻(fu) 射(she) 劑(ji) 量 率(lv)
•AT6102 不(bu)同(tong)於(yu) AT6102A 和 AT6102B 的(de)地方(fang)在於，儀器內置兩(liang)個帶慢(man)化體的(de)氦(hai) 3 正(zheng)比計(ji)數器，用於中(zhong)子輻(fu)射(she)探(tan)測(ce)，尋(xun)找(zhao)中子放射源(yuan)，測(ce)量中(zhong)子計數(shu)率(lv)
•AT6102A 和AT6102B 所(suo)使用(yong)的探(tan)測(ce)器(qi)大小(xiao)、靈敏(min)度(du)和測(ce)量範(fan)圍有差別，具(ju)體(ti)可參(can)考技術(shu)參(can)數(shu)
AT6102B多功能(neng)便攜(xie)式(shi)能(neng)譜(pu)儀產(chan)品應(ying)用(yong)：
•核(he)輻(fu)射(she)事(shi)故(gu)調(tiao)查(zha)
•環(huan)境輻(fu)射(she)監測(ce)
•核(he)廢(fei)料控(kong)制(zhi)
•邊(bian)境和海關
•核(he)工(gong)業(ye)和核電(dian)站(zhan)
•地質堪探(tan)
•放射性(xing)藥物生產
•核(he)醫療
•核(he)素(su)研(yan)究
AT6102B多功能(neng)便攜(xie)式(shi)能(neng)譜(pu)儀產(chan)品特(te)點(dian)：
•測(ce)量α、 β、 γ和中子輻(fu)射(she)
•探(tan)測(ce)和定位(wei)放射源(yuan)，實(shi)時識別核(he)素(su)
•多種(zhong)功(gong)能(neng)
•外(wai)形(xing)設(she)計堅固(gu)耐用(yong)
•實(shi)現在線測(ce)量並(bing)有專業(ye)分(fen)析(xi)模(mo)式(shi)
•內置 GPS 模(mo)塊
•通(tong)過自動(dong)連(lian)續(xu)運行(xing)的(de) LED 確定穩定(ding)性(xing)，定期(qi)應(ying)用(yong)標(biao)準物(wu)質 KCl 進行能量刻度
•通(tong)過溫度傳感器(qi)自(zi)動(dong)進行溫度補償
•超過劑(ji)量閾(yu)值(zhi)報(bao)警(jing)功能(neng)
•能(neng)夠存儲 700 個能譜(pu)
•能(neng)夠在現場環(huan)境中(zhong)測(ce)量
•通(tong)過 USB 接(jie)口(kou)和計算(suan)機相連(lian)
•連(lian)接(jie)外(wai)部(bu)探(tan)頭(tou)