低(di)本(ben)底(di)測(ce)量儀的原理(li)是什麽(me)?有哪些特點?
更新(xin)時(shi)間(jian):2022-05-26 點擊(ji)次數:3909次
低(di)本(ben)底(di)測量(liang)儀於檢測(ce)生(sheng)活(huo)飲用(yong)水(shui)放射性(xing)檢測(ce)、輻(fu)射環境(jing)監(jian)測(ce)、核電(dian)站、地質勘探、高等(deng)院(yuan)校(xiao)、出入境檢驗(yan)檢疫(yi)、第(di)三方(fang)檢測(ce)及(ji)科研機(ji)構(gou)等領域對(dui)樣品(pin)中(zhong)的總(zong)α、總(zong)β活(huo)度濃(nong)度測量。
低本底(di)測(ce)量儀的原理(li):
探(tan)測器頂端的閃爍體是由α閃爍物(wu)質(zhi)和(he)β閃爍物(wu)質(zhi)壓制在(zai)的有機(ji)玻璃板上(shang)。由於(yu)α粒(li)子和(he)β射線(xian)進(jin)入閃爍物(wu)質(zhi)時後(hou),將全(quan)部能量損失在(zai)閃爍物(wu)質(zhi)上(shang),引起(qi)閃爍發(fa)光(guang),閃爍光子被(bei)光(guang)電(dian)倍(bei)增管接收(shou)並(bing)轉(zhuan)換(huan)產生(sheng)電(dian)信號。電(dian)信號進(jin)入電(dian)子線(xian)路(lu),轉(zhuan)換(huan)成電(dian)脈沖信號,被(bei)記(ji)錄(lu)。每(mei)壹(yi)個(ge)α粒(li)子撞(zhuang)擊閃爍體後產(chan)生(sheng)的光(guang)信號進(jin)入電(dian)子線(xian)路(lu)整(zheng)合後(hou)在(zai)顯示器上(shang)被(bei)記(ji)錄(lu)成(cheng)壹(yi)個(ge)計(ji)數。所(suo)以(yi)低本(ben)底(di)αβ測(ce)量儀也被(bei)通(tong)俗(su)叫做(zuo)低(di)本(ben)底αβ計(ji)數器。計(ji)數率與(yu)樣(yang)品中(zhong)核素(su)活(huo)度成(cheng)正比。
低本底測(ce)量(liang)儀的性(xing)能特點:
1、低(di)本(ben)底(di)測(ce)量儀有多獨(du)立的(de)主探(tan)測(ce)器,可(ke)同時測(ce)多個(ge)樣(yang)品(pin),分別給(gei)出(chu)多個(ge)樣(yang)品(pin)中(zhong)的總(zong)α、總(zong)β活(huo)度濃(nong)度測量。
2、儀器須(xu)經(jing)國(guo)家計(ji)量部門嚴(yan)格(ge)檢定,全(quan)部性(xing)能指標應符合國(guo)家規定Ⅱ級(ji)以(yi)上(shang)標準(zhun)的要(yao)求。儀器配(pei)備壹支(zhi)HND-L塑(su)料雙(shuang)閃爍體探測(ce)器(qi),每次可(ke)單(dan)獨(du)測(ce)量壹個(ge)樣(yang)品(pin)中(zhong)α或β,或αβ同時測(ce)量(liang)。
3、探測器(qi)采用(yong)低(di)噪聲光(guang)電(dian)倍(bei)增管和(he)HND-L型藍(lan)光塑(su)閃組成,降低(di)自(zi)吸(xi)收(shou),大限度(du)提升(sheng)探測(ce)效(xiao)率;不(bu)怕汙(wu)染、表面(mian)擦(ca)洗、經(jing)久(jiu)耐(nai)用。
4、主系統(tong)應采用(yong)kdlb負(fu)脈沖自(zi)動控(kong)制反(fan)饋系統(tong),測量時間(jian)、探(tan)測(ce)器(qi)的(de)閾值和(he)高壓都(dou)可(ke)根(gen)據(ju)要求通(tong)過(guo)計(ji)算(suan)機(ji)系統(tong)自(zi)動調(tiao)節,非(fei)機(ji)械(xie)旋(xuan)鈕控制,減(jian)小(xiao)操作(zuo)誤(wu)差,降低(di)實(shi)驗(yan)人員(yuan)工作量。