輻(fu)射檢(jian)測(ce)儀的(de)工作原理(li)

輻(fu)射檢(jian)測(ce)儀的(de)工作原理(li)主要基(ji)於(yu)探(tan)測(ce)放射性物(wu)質的(de)衰變(bian)過(guo)程(cheng)中(zhong)釋(shi)放出(chu)的(de)輻(fu)射，如(ru)α粒子、β粒子、γ射線等。這些(xie)輻(fu)射與(yu)檢(jian)測(ce)器中(zhong)的(de)物(wu)質相(xiang)互(hu)作用，產生電(dian)離效應(ying)，導(dao)致(zhi)檢(jian)測(ce)器中(zhong)的(de)電(dian)荷量(liang)發(fa)生(sheng)變(bian)化(hua)，從而(er)產生電(dian)信(xin)號。輻(fu)射檢(jian)測(ce)儀通(tong)常(chang)采用(yong)閃爍(shuo)晶(jing)體作為(wei)探(tan)測(ce)器，閃爍(shuo)晶(jing)體能夠吸收射(she)線並(bing)轉化(hua)為(wei)可見光(guang)，這(zhe)個過程(cheng)被(bei)稱(cheng)為(wei)光(guang)致(zhi)發(fa)光(guang)。然(ran)後，光(guang)被(bei)收集到(dao)光(guang)電(dian)倍(bei)增管(guan)中(zhong)，並(bing)轉化(hua)為(wei)電(dian)信(xin)號，這(zhe)些電(dian)信(xin)號會(hui)被放大和整(zheng)形(xing)，以(yi)便後(hou)續(xu)的(de)信(xin)號處理(li)和測(ce)量(liang)。

除此(ci)之(zhi)外(wai)，輻(fu)射檢(jian)測(ce)儀還(hai)有壹種(zhong)工作原理(li)是(shi)使用蓋革-彌勒(le)計(ji)數管(guan)（蓋格計(ji)數器），當(dang)射(she)線通(tong)過(guo)該(gai)計(ji)數管(guan)並(bing)引(yin)起電(dian)離時，產生壹次(ci)檢(jian)測(ce)電(dian)流(liu)脈沖(chong)，每(mei)個脈沖(chong)被(bei)電(dian)子(zi)管(guan)電(dian)路(lu)檢(jian)測(ce)並記錄為(wei)壹(yi)個計數。如(ru)果計量(liang)超(chao)標(biao)，結合(he)蜂鳴(ming)器(qi)的(de)蜂鳴(ming)，就(jiu)可以(yi)直(zhi)觀地(di)看(kan)到(dao)輻(fu)射射(she)線(xian)粒(li)子的(de)劑量(liang)和聽(ting)到(dao)蜂鳴(ming)警(jing)告。