服(fu)務(wu)熱線(xian)
13761613451
18916735302

儀器本(ben)底(di)指(zhi)的(de)是(shi)在沒有(you)氡氣(qi)時產(chan)生(sheng)的(de)亂真(zhen)計(ji)數。本(ben)底(di)的(de)產(chan)生可能(neng)是(shi)因(yin)為儀器或(huo)其(qi)組(zu)分(fen)的(de)性(xing)質(zhi)、儀器環境(jing)裏(li)其(qi)它形(xing)式(shi)的射線(xian)或(huo)者儀器本(ben)身(shen)的(de)汙染(ran)。
HS01測氡(dong)儀的設(she)計(ji)比起(qi)其(qi)它的氡氣(qi)探(tan)測儀更(geng)加(jia)不容(rong)易受(shou)到(dao)本(ben)底(di)的(de)影(ying)響,但操作(zuo)者應(ying)當(dang)對本(ben)底(di)有(you)個(ge)認識(shi),避(bi)免犯不必要的(de)錯(cuo)誤(wu)。
集(ji)聚在探(tan)測器(qi)表(biao)面(mian)的(de)氡(dong)釷(tu)子(zi)體(ti),在(zai)氡(dong)釷(tu)去除後能(neng)繼(ji)續(xu)產生α計(ji)數。當(dang)您在(zai)完成壹(yi)個(ge)高(gao)濃(nong)度(du)(幾萬(wan)Bq/m3以上(shang))氡(dong)含(han)量(liang)樣品(pin)測量(liang)後試圖立(li)即(ji)測量(liang)壹(yi)個(ge)低(di)本(ben)底(di)含(han)量(liang)(幾十(shi)Bq/m3)的氡(dong)樣品(pin),高(gao)濃(nong)度(du)樣品(pin)測量(liang)後留存(cun)的子(zi)體(ti)會大大的混(hun)淆(xiao)測量(liang)結(jie)果。因(yin)此(ci)需要相(xiang)隔壹(yi)段時間(jian)(30分(fen)鐘(zhong)以(yi)上(shang),降(jiang)到原(yuan)來0.1%水(shui)平)再進行下(xia)壹(yi)次(ci)測量(liang)。
HS01測氡(dong)儀,在您(nin)使(shi)用嗅(xiu)探模式時候(hou),能(neng)對氡(dong)樣品(pin)以3.05分(fen)半衰(shuai)期(qi)做(zuo)出(chu)快(kuai)速(su)響(xiang)應(ying)。因(yin)此(ci)氡氣(qi)去除後,10分(fen)鐘能(neng)下(xia)降(jiang)90%,18分鐘(zhong)能(neng)下(xia)降(jiang)98.44%,30分鐘(zhong)本(ben)底(di)值(zhi)只(zhi)留下(xia)原(yuan)來的(de)0.1%。這是(shi)任(ren)何總(zong)量(liang)探(tan)測儀器不(bu)能(neng)相(xiang)比的(de)。
釷(tu)射氣(qi)的(de)子(zi)體(ti)比(bi)氡(dong)子(zi)體(ti)更(geng)不(bu)容易去除。釷(tu)射氣(qi)子(zi)體(ti)Pb212半衰(shuai)期(qi)是(shi)10.6小(xiao)時,在(zai)使(shi)用總(zong)量(liang)測量(liang)儀器時候(hou),如(ru)果(guo)累(lei)積(ji)了(le)大量(liang)這種(zhong)子(zi)體(ti),您(nin)可能(neng)的(de)等上(shang)壹(yi)兩(liang)天(tian)才能(neng)再次使(shi)用您(nin)的儀器。而ST2017通過區分(fen)子(zi)體(ti)的(de)能(neng)力(li)不必為釷(tu)射氣(qi)幹(gan)擾(rao)的(de)影響困擾。
氡(dong)原(yuan)子(zi)會吸附(fu)或(huo)吸收(shou)在(zai)氡(dong)氣(qi)收(shou)集(ji)腔的(de)內(nei)表(biao)面、管材的(de)內(nei)部(bu)或(huo)者幹(gan)燥(zao)劑(ji)的(de)顆粒上(shang)。在(zai)您(nin)清洗(xi)了(le)儀器之(zhi)後這些(xie)氡氣(qi)仍(reng)然(ran)能(neng)留下(xia),然後再從氡(dong)高(gao)壓靜(jing)電收(shou)集(ji)腔體(ti)表面析(xi)出(chu)進入氡(dong)高(gao)壓靜(jing)電收(shou)集(ji)腔體(ti),由於很少(shao)氡(dong)氣(qi)會被(bei)吸附(fu),因(yin)此(ci)這個(ge)影響(xiang)通常(chang)會忽(hu)略(lve)不計。但在氡(dong)氣(qi)含(han)量(liang)非(fei)常(chang)高(gao)的情況(kuang)下(xia)(幾萬(wan)Bq/m3),即使(shi)很少(shao)壹(yi)部(bu)分也(ye)是(shi)很可觀的(de),在(zai)清洗(xi)儀器之(zhi)後您(nin)看到有(you)些(xie)殘留的(de)氡(dong)氣(qi)。
常(chang)規(gui)的(de)辦(ban)法(fa)沒隔幾小(xiao)時清洗(xi)10分(fen)鐘(zhong),直到(dao)計數率下(xia)降(jiang)。即使(shi)在(zai)糟糕的情況(kuang)下(xia),氡也(ye)會通過(guo)自身(shen)3.82天半衰(shuai)期(qi)衰(shuai)變(bian),終(zhong)儀器會恢復正(zheng)常(chang)工作(zuo)的低(di)本(ben)底(di)水(shui)平(ping)。
在氡(dong)氣(qi)含(han)量(liang)較(jiao)高(gao)的環境(jing)下(xia)工作(zuo)很多年後,儀器內(nei)部(bu)的探(tan)測器(qi)表(biao)面(mian)將(jiang)集(ji)聚Pb210這個(ge)具有22年半衰(shuai)期(qi)的同位素。它有壹(yi)個(ge)繼承(cheng)元(yuan)素Po210,能(neng)產(chan)生能(neng)量(liang)為(wei)5.3MeV的α粒(li)子(zi)。HS01通(tong)過能(neng)量(liang)識(shi)別(bie)這種(zhong)同位(wei)素,將(jiang)它從計(ji)算中去除掉。因(yin)此(ci),其(qi)積(ji)聚對儀器本(ben)底(di)沒(mei)有(you)多大貢獻(xian)。
如(ru)果(guo)產生氡(dong)或(huo)釷(tu)的母(mu)體(ti)汙染(ran)物(wu)入Ra226和Th228,被(bei)捕獲進入軟(ruan)管(guan)或(huo)者過(guo)濾(lv)器中。它們(men)可能(neng)會放射(she)氡(dong)氣(qi)或(huo)釷(tu)射氣(qi),這些(xie)射氣(qi)會通過(guo)過(guo)濾器帶(dai)進儀器。某(mou)些(xie)塵土(tu)可能(neng)含(han)有足(zu)夠量(liang)的(de)這些(xie)同位(wei)素,因(yin)此(ci)上(shang)述(shu)情形(xing)可能(neng)會發生(sheng)。
因(yin)此(ci),使(shi)用時候(hou)要經常(chang)更(geng)換(huan)新(xin)的濾(lv)膜(mo),將(jiang)濾膜(mo)裝(zhuang)在(zai)整(zheng)個(ge)進氣(qi)系(xi)統(tong)的***前(qian)端(duan)。能(neng)有(you)效(xiao)防(fang)止(zhi)這些(xie)固體(ti)汙染(ran)物(wu)進入氣(qi)路(lu)系(xi)統(tong)。
儀器本(ben)身(shen)結(jie)構材(cai)料可能(neng)存(cun)在能(neng)否(fou)發出(chu)α射(she)線(xian)的(de)汙染(ran)物(wu),但是(shi)這種(zhong)汙染(ran)物(wu)極低(di),通常(chang)在幾個(ge)小(xiao)時內(nei)只(zhi)有(you)壹(yi)兩(liang)個(ge)計數,因(yin)此(ci)其(qi)對探(tan)測的(de)影(ying)響(xiang)忽(hu)略(lve)不計。
還(hai)有(you)可能(neng)是(shi)Rn219或(huo)稱錒射(she)氣(qi),它半衰(shuai)期(qi)只(zhi)有(you)4秒,它是(shi)天然U235衰(shuai)變(bian)而來的。但由於自然(ran)界中U235比(bi)U238(Rn222的(de)母(mu)體(ti))濃(nong)度(du)要低(di)的多,因(yin)此(ci)Rn219基本(ben)上(shang)不(bu)會進入探(tan)測系(xi)統(tong)。
儀器使(shi)用的(de)探測器(qi)對β射(she)線(xian)和γ射線(xian)是(shi)幾乎不(bu)敏感(gan)的,因(yin)此(ci)理論(lun)上(shang)這兩(liang)種(zhong)射線(xian)不(bu)會對儀器造(zao)成幹擾(rao)。但是(shi)暴露(lu)在高(gao)濃(nong)度(du)的β輻(fu)射體和γ輻射(she)體下(xia),會造(zao)成探測器(qi)的(de)輻(fu)射(she)損(sun)傷(shang),可能(neng)使(shi)探(tan)測器(qi)漏(lou)電流(liu)增加(jia),導(dao)致能(neng)量(liang)分(fen)辨(bian)率變差(cha)。但環境(jing)水平的(de)β射線(xian)或(huo)γ射線(xian)不(bu)會對測氡(dong)儀造(zao)成任(ren)何明(ming)顯(xian)的影響(xiang)。
上(shang)壹(yi)篇(pian) : α能(neng)譜(pu)測氡(dong)儀測量(liang)原(yuan)理及(ji)其(qi)影(ying)響(xiang)因(yin)素
下(xia)壹(yi)篇(pian) : 土(tu)壤(rang)中氡(dong)濃(nong)度(du)及土(tu)壤(rang)表(biao)面氡析出(chu)率測定(ding)