基(ji)於(yu)基(ji)線自(zi)動恢(hui)復技(ji)術(shu)的(de)數(shu)字(zi)多(duo)道能(neng)譜(pu)儀

           基於(yu)基(ji)線自(zi)動恢(hui)復技(ji)術(shu)的(de)數(shu)字(zi)多(duo)道能(neng)譜(pu)儀

     不同放射(she)性強度(du)的(de)測(ce)量應(ying)用中(zhong)，探(tan)測(ce)器(qi)輸出(chu)核(he)脈(mai)沖信號的(de)基(ji)線將(jiang)發生漂移，進而造(zao)成多道能(neng)譜(pu)儀的(de)譜(pu)線漂(piao)移和(he)能(neng)量分辨(bian)率損失(shi)。盡管(guan)采用數字(zi)基(ji)線估(gu)計(ji)方法對核(he)脈(mai)沖信號的(de)基(ji)線進行正確(que)估(gu)計(ji)，但純數字基(ji)線恢(hui)復算(suan)法無法有效(xiao)處(chu)理核(he)脈(mai)沖信號基線漂(piao)移對前端(duan)電路(lu)的(de)影響。采(cai)用zui小(xiao)平(ping)均值基線估(gu)計(ji)方法，先在現(xian)場(chang)可編(bian)程門陣列(lie)（Field-Programmable Gate Array，FPGA）中(zhong)進行數字(zi)基(ji)線估(gu)計(ji)；然(ran)後(hou)通(tong)過SPI總(zong)線將(jiang)基線估(gu)計(ji)值傳入(ru)微(wei)控(kong)制(zhi)器(qi)（Micro-Controller Unit，MCU），MCU根據基線值判斷(duan)是否(fou)進行基線調節(jie)，將(jiang)基線估(gu)計(ji)值傳入(ru)數模(mo)轉(zhuan)換器（Digital-to-analog Converter，DAC）；zui後(hou)在前端(duan)電路(lu)中(zhong)實(shi)現(xian)核脈(mai)沖信號的(de)基(ji)線恢(hui)復。基於(yu)LaBr3（Ce）探(tan)測(ce)器(qi)的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)表明：采用該基(ji)線自(zi)動恢(hui)復技(ji)術(shu)的(de)數(shu)字(zi)化(hua)多(duo)道能(neng)譜(pu)儀能(neng)夠(gou)實(shi)現(xian)核脈(mai)沖信號的(de)基(ji)線自(zi)動恢(hui)復。在高(gao)放(fang)射(she)性測(ce)量條件(jian)下(xia)，測(ce)量系統能(neng)夠(gou)解(jie)決(jue)因(yin)基(ji)線漂(piao)移引(yin)起的(de)譜(pu)線漂(piao)移問(wen)題(ti)，使系統(tong)能(neng)量分辨(bian)率保(bao)持穩(wen)定。