低本底(di)αβ測量儀(yi) （RJ41-1/2/4/6/8 ）

低本底(di)αβ測量儀(yi) (RJ41-1/2/4/6/8 )

 概  述

低本底(di)α、β測量儀(yi)主(zhu)要用於環境樣品(pin)、輻(fu)射防(fang)護、醫(yi)藥(yao)衛(wei)生(sheng)、農業科學(xue)、進出口(kou)商(shang)品(pin)檢(jian)驗(yan)、地(di)質(zhi)勘探、核(he)電(dian)站等領域(yu)中水、生(sheng)物(wu)樣(yang)品(pin)、氣(qi)溶膠、食(shi)品(pin)、醫(yi)藥(yao)、土(tu)壤、巖石等(deng)介質(zhi)中(zhong)總α總(zong)β的(de)測(ce)量。

主(zhu)探(tan)測(ce)器(qi)采(cai)用(yong)硫(liu)化鋅加(jia)對(dui)聯三(san)苯雙閃(shan)爍(shuo)晶體，經(jing)久耐(nai)用，表(biao)面(mian)輕微汙(wu)染後可(ke)進行(xing)擦洗，正(zheng)常工作不需要任(ren)何介質(zhi)氣(qi)體。探(tan)測器尺(chi)寸為(wei)φ45mm、φ30mm、φ52mm或根據(ju)用(yong)戶(hu)要求定(ding)制(zhi)；采(cai)用(yong)大面(mian)積(ji)平(ping)行(xing)板(ban)塑(su)料閃(shan)爍(shuo)體作為反(fan)符(fu)合探測(ce)器(qi)，反(fan)符(fu)合效(xiao)率(lv)大於99%，可有效(xiao)降低系統本(ben)底(di)；可同時(shi)測(ce)量四個樣品(pin)，分(fen)別(bie)給(gei)出四個被測樣(yang)品(pin)中(zhong)的(de)總(zong)α、總β活度濃(nong)度。

主(zhu)要參(can)數(shu)指(zhi)標：

α、β區(qu)分(fen)辦(ban)法(fa)：核(he)脈沖幅(fu)度甄(zhen)別(bie)和(he)脈(mai)寬(kuan)甄(zhen)別(bie)相(xiang)結合技術

測(ce)量靈(ling)敏(min)度(du)：β≤0.5×10-2~3×10-2Bq；α≤5×10-4Bq

產(chan)品(pin)本(ben)底(di)及效(xiao)率(lv)：

對(dui)於90Sr-90Y β源（活性區(qu)Φ20mm）2π效(xiao)率(lv)比≥50% 時(shi)，本底(di)≤0.10cm-2min-1         

對(dui)於239Pu α源（活性區(qu)Φ30mm）2π效(xiao)率(lv)比≥90% 時(shi)，本底(di)≤0.003cm-2min-1

-α/β交叉性(xing)能(neng)：α進入β道的(de)計(ji)數(shu)比(bi)<1.5%（對(dui)239Pu）

β進入α道的(de)計(ji)數(shu)比(bi)為(wei)<0.3%（對(dui)於90Sr-90Y）

β能(neng)量下(xia)限(xian)低，可用(yong)於環境樣品(pin)中(zhong)C-14測量(liang)

系(xi)統穩(wen)定性(xing)：

    效(xiao)率(lv)穩(wen)定性(xing)：儀(yi)器(qi)通(tong)電(dian)24h，各路探(tan)測(ce)效(xiao)率(lv)變化(hua)<10%

    本(ben)底(di)穩(wen)定性(xing)：在(zai)100min的(de)測(ce)量時間內(nei)，本(ben)底(di)計數(shu)變(bian)化(hua)在(zai)（Nb±3σ）的(de)範圍內(nei)，其中(zhong)Nb 為本(ben)底(di)計數(shu)的(de)平(ping)均值(zhi)，σ為本(ben)底(di)計數(shu)的(de)標準(zhun)誤差

-鉛(qian)屏蔽(bi)室(shi)：厚度(du)≥75mm，可方便拆(chai)卸(xie)安(an)裝

-溫(wen)度範圍：5℃~35℃   濕(shi)度範圍：<85%（+30℃）